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光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統 MirrorCLEM是一個(gè)可簡(jiǎn)便觀(guān)察光學(xué)顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM*1用系統。
場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF-3300 日立的冷場(chǎng)發(fā)射電子源和300 kV加速電壓技術(shù)共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術(shù),空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術(shù)開(kāi)辟了高效,高精度樣品分析的新途徑。
掃描電子顯微鏡 FlexSEM100 Hitachi的掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000「先進(jìn)的SEM設計得更加緊湊」 只有45厘米寬的緊湊型設計,實(shí)現了4.0 nm的分辨率。 全新開(kāi)發(fā)的用戶(hù)界面和電子光學(xué)系統,使性能大幅提升。
球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700 掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開(kāi)發(fā)的球差校正儀,顯著(zhù)提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高級納米技術(shù)研究。
透射電子顯微鏡HT7800系列 ~從生物醫學(xué)到材料領(lǐng)域~ 以創(chuàng )新的操作性,滿(mǎn)足廣泛領(lǐng)域的需求。 新一代TEM“RuliTEM“誕生。
透射電子顯微鏡 HT7700 日立HT7700 : 數字一體化的TEM操作平臺,操作簡(jiǎn)便的通用性設計 HT7700優(yōu)異的高反差、高分辨圖像觀(guān)察與強大的分析擴展功能,可為生物醫學(xué)、醫藥、食品、農業(yè)、高分子、化學(xué)、納米材料等多領(lǐng)域提供*的TEM解決方案。
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